コンタクトプローブは、基板やICの検査信頼性を左右する部品です。試作から量産まで安定した接触が求められ、開発品質や納期にも直結します。本ページでは、用途や構造、選定の基本を業務担当者向けに解説します。
電子基板やICの検査時に使われる導通確認用の部品です。検査信号を正確に取得するために重要な役割を担っており、プローブの精度によって検査結果の信頼性が大きく左右されます。
内部にはスプリングやプランジャーといった構造があり、わずかな接触でも安定した導通が得られるよう工夫されています。接触不良や信号異常の原因がプローブにあるケースもあるため、適切な選定が不可欠です。
コンタクトプローブは、電子機器の試作・評価・量産検査など幅広い工程で使用されています。主な用途は、ICの導通チェック、FPCの接点検査、車載ECUの動作確認などがあります。
高周波や大電流、耐久性が求められる環境にも対応しており、各種検査工程で信号の正確な取得と接触安定性を確保するために欠かせない部品です。
「試作で問題なかったのに量産で不具合が出るのはなぜか」など、選定に関する疑問は多くの開発現場で共通しています。
ピッチや電流値、耐熱性などの条件によって最適な仕様は異なります。試作で問題がなかったプローブでも、量産時には接触不良を引き起こすことがあります。
検査不具合を防ぐには、初期段階での使用条件の明確化が重要です。図面化まで対応可能なメーカーと連携し、仕様を精緻に設計することで後工程のトラブルを避けられます。
試作から量産まで仕様の一貫性を維持できる体制かどうかも、選定時の重要な検討ポイントです。
コンタクトプローブは、検査精度や信頼性に直結する戦略的な部品です。製品品質の安定と工程効率の両立を図るには、仕様に応じた適切な選定と技術的な裏付けが求められます。
仕様確定前から量産まで一貫して支援可能なメーカーと組むことで、検査トラブルや手戻りを未然に防げます。
開発条件に応じた仕様提案を受けることで、工程全体の安定と最適化が期待できます。