SDKのコンタクトプローブ製品一覧｜特徴・種類・選ばれる理由を解説

本ページでは、SDKが提供するコンタクトプローブについて、その技術的な強みや製品ラインアップなどを解説します。検査工程の課題解決に適した製品選びにお役立てください。

SDKのコンタクトプローブにおける技術的な強み

接点部両挟み構造による安定した信号伝達

SDKのコンタクトプローブは、「接点部両挟み構造」を採用している点が大きな強みです。この構造により、検査工程において重要となる安定した電気的接触と信号伝達をしっかりと確保します。接触不良による歩留まり低下や検査エラーのリスクを低減できるため、精度の高いテスト環境を構築し、工程全体の信頼性を向上させたい現場に適しています。

高周波用途に対応する低背プローブの展開

高周波デバイスの検査に適した、低背タイプのプローブピンをラインアップしている点も強みです。最短で1.25mmというコンパクトな設計を実現しており、インダクタンスも0.38nHと低く抑えられています。これにより、高周波帯域でも信号の劣化を最小限に防ぐことができ、次世代の半導体や電子部品など、シビアな電気的特性が求められる検査工程において高いパフォーマンスを発揮します。

SDKのプローブ製品一覧

プローブピン

接点部両挟み構造を採用し、検査時の安定した信号伝達を可能にするプローブピンです。特に高周波用途に適した低背仕様のモデルを展開しており、最短1.25mmという省スペース設計を実現しています。また、インダクタンスは0.38nHに抑えられ、許容電流は2.0A、繰り返し寿命は10万回以上と、過酷な検査環境でも長期間にわたって高い耐久性とパフォーマンスを維持できる仕様となっています。

SDKの導入事例

公式サイトに導入事例の記載はありませんでした。

SDKの
納期・サポート体制

• 最小発注数量（MOQ）：公式サイトに記載なし
• 納期／リードタイム：公式サイトに記載なし
• 技術サポート：公式サイトに記載なし
• カスタマイズ対応：◯

SDKの概要