ミクナスファインエンジニアリングのコンタクトプローブ製品一覧｜特徴・種類・選ばれる理由を解説

本ページでは、同社のコンタクトプローブの技術的な強みや製品ラインアップなどを解説します。検査工程の課題解決に適した製品選びにお役立てください。

ミクナスファインエンジニアリングのコンタクトプローブにおける技術的な強み

幅広い用途に対応する多彩なバリエーション

ミクナスファインエンジニアリングのコンタクトプローブは、一般的な半導体パッケージの電気検査から、高速通信を支えるRFデバイス、磁性を嫌うセンサー類まで、非常に幅広い用途に適用可能な製品を展開しています。高周波特性に最適化されたモデルや非磁性仕様など、検査対象の特性に合わせたプローブを選択できることが強みです。

ニーズに合わせた柔軟なカスタマイズ対応

標準品だけでなく、ユーザーの要望に合わせたカスタマイズ対応を得意としています。検査工程における特有の課題に合わせて、プローブのサイズや形状を柔軟に変更することが可能です。また、グランドピンのフルオーダーメイドにも対応しており、特殊な検査環境や新規デバイスのテストにおいても、適したコンタクト環境を構築するための技術サポートを提供しています。

ミクナスファインエンジニアリングのプローブ製品一覧

コンタクトプローブ

片端／両端摺動

一般的な半導体パッケージの電気検査などに幅広く用いられる標準的なコンタクトプローブです。0.3～1.27ピッチの範囲に対応しており、基板やデバイスの狭い回路間でも確実な接触と安定した検査環境を実現します。

ケルビン

電圧測定用と電流印加用の端子を分ける4点測定（ケルビン接続）を行うためのコンタクトプローブです。微小な抵抗値を正確に測定する必要があるデバイスの検査など、高い測定精度が求められる工程に適しています。

高周波

RFデバイスや高速通信用デバイスなど、高周波信号を扱う製品の検査に特化したコンタクトプローブです。高周波特性に最適化された設計となっており、信号のロスやノイズの影響を抑えた正確な測定が可能です。

非磁性

磁場の影響を嫌うセンサー類や、特殊な環境下での検査向けに非磁性材料を使用して作られたコンタクトプローブです。プローブ自体が帯磁しないため、検査対象の特性を損なうことなく正確なテストを実現します。

ファインピッチ

FPD（フラットパネルディスプレイ）やWLCSP（ウェハレベルチップスケールパッケージ）など、極めて微細な回路や端子間隔を持つデバイスの検査に用いられるコンタクトプローブです。狭ピッチ化が進むデバイスのテストに対応します。

ミクナスファインエンジニアリングの導入事例

公式サイトに導入事例の記載はありませんでした。

ミクナスファインエンジニアリングの
納期・サポート体制

• 最小発注数量（MOQ）：公式サイトに記載なし
• 納期／リードタイム：公式サイトに記載なし
• 技術サポート：デバイスに応じたプローブの提案を実施
• カスタマイズ対応：サイズや形状のカスタマイズ、グランドピンのフルオーダーメイド対応あり

ミクナスファインエンジニアリングの概要