QA Technologyのコンタクトプローブ製品一覧｜特徴・種類・選ばれる理由を解説

QA Technologyは、アメリカ・ニューハンプシャー州ハンプトンに本社を構えるテストプローブメーカーです。ICT／FCTから半導体テスト、コネクタ用途まで、用途に応じた6系統のテストプローブ・コンタクト製品を展開しています。

本ページでは、QA Technologyが提供するコンタクトプローブの技術的な強みや、製品スペックについて解説します。検査工程の課題解決に適した製品選びにお役立てください。

QA Technologyのコンタクトプローブにおける技術的な強み

用途別に体系化された6系統の製品ラインナップ

QA Technologyは、汎用のICT／FCT向けConventional Probesを軸に、高密度回路向けのSocketless X® Probes、大電流用のHigh Current Probes、テスターとフィクスチャ間の接続用に設計されたATE Interface Probes、IC・BGAなどの半導体部品のテストに使用されるDouble Ended Probes、コネクタシステム向けのintegraMate® Hyperboloid Contactsまで、用途に応じた6系統の製品を展開しています。

検査対象や接続用途に合わせて、製品カテゴリーから選定できる点が特徴です。

幅広いピッチ・ストロークとカスタム対応

Conventional Probesは0.025〜0.187インチのセンター間隔（ピッチ）に対応し、ストロークも0.050〜0.500インチの範囲で複数のバリエーションを展開しています。また、integraMate® Hyperboloid Contactsでは標準用途とカスタム用途の両方に対応しており、用途に応じたコネクタシステムの構成が可能です。

QA Technologyのプローブ製品一覧

Spring Loaded Test Probesシリーズ

Conventional Probes

ICT（インサーキットテスト）やFCT（ファンクションテスト）などの基板検査向けに展開されている、QA Technologyの標準的なテストプローブです。センター間隔0.025〜0.187インチ、ストローク0.050〜0.500インチの範囲で、025-16、039-16／25／40、050-05／16／T25／R25／T40／R40、075-25／40、100-05／16／25／40／50など、多数のシリーズを展開しています。

Socketless X® Probes

高密度回路向けに設計されたソケットレス構造のプローブです。通常のプローブとソケットを組み合わせる構成と比べて、より狭いセンター間隔にプローブを配置できるため、高密度な回路の検査に対応します。

High Current Probes

大電流用途向けに開発されたテストプローブです。高導電性の独自合金やめっきを採用し、標準的なプローブより大きな電流を扱えるよう設計されています。

ATE Interface Probes

ATE（自動テスト装置）のテスターとフィクスチャを接続する用途に設計されたプローブです。テスター側とフィクスチャ側の電気機械的な接続に使用されます。

Double Ended Probesシリーズ

Double Ended Probes

IC、BGAなどの半導体部品のテストに使用される両端型プローブです。0.35mm、0.80mm、1.00mmのセンター間隔に対応する製品が展開されており、標準およびカスタムのソケット用途に対応しています。

integraMate® Hyperboloid Contactsシリーズ

integraMate® Hyperboloid Contacts

コネクタシステム向けに設計されたハイパーボロイドコンタクトです。標準用途とカスタム用途の両方に対応し、堅牢で柔軟なコネクタシステムを構成できる製品として位置付けられています。

QA Technologyの導入事例

QA Technologyの公式サイトでは、具体的な導入企業名や導入後の効果を示した事例は確認できませんでした。一方で、ICT／FCT、半導体テスト、大電流用途、ATEインターフェース、コネクタなど、製品ごとの用途は紹介されています。

QA Technologyの
納期・サポート体制

• 最小発注数量（MOQ）：公式サイトに記載なし
• 納期／リードタイム：多くの注文を当日出荷。配送先や注文内容によって納期が異なるため、個別に要確認
• 技術サポート：設計・品質・用途・注文に関するサポートを提供。技術資料やFAQなども確認可能
• カスタマイズ対応：◯

QA Technologyの会社概要